Drive test(驱动器测试) -- 此工作模式用于测试和修理:
--读写通道 (硬盘电路系统中对磁头读取的微弱信号进行放大,滤波,数据/时钟分离, 对数据进行编码, 磁头写电流驱动,写预补偿的电路部分 --译者注).
--磁头定位系统. (硬盘机械系统中, 用于移动磁头到指定磁道的零部件总成, 目前普遍使用音圈电机(VCM)带动磁头臂旋转的磁头定位方式 --译者注)
--主轴电机及其控制芯片 (主轴电机用于旋转盘片, 目前常用直流无刷电机; 电机控制芯片负责驱动直流无刷电机旋转及稳速. --译者注)
测试信息会显示在屏幕的STATE(状态)栏上:
Ready/Busy (就绪/忙) --根据硬盘驱动器的状态寄存器中的BSY位的值指示硬盘驱动器的当前状态是已经就绪在等待主机命令还是尚在"忙着"执行上一条主机命令而未就绪.
CYL (柱面号) 当前(活动)的柱面号
HEAD (磁头号) 当前(活动)的磁头号
ERRS (错误数) 已经检测到的错误数量
各个按键作用:
按PC-3000AT测试工具的键盘(电脑键盘右部的数字小键盘区上预设)上的键可执行下列功能.
[Tran.]按键 : 硬盘驱动器扇区逻辑地址转换物理地址正确性测试
[Step-]按键 : 磁头后退一个磁道,当前活动柱面号减1
[Step+]按键 : 磁头前进一个磁道,当前活动柱面号加1
[X->0] 按键 : 硬盘驱动器重新校准, 也就是把磁头移动到零磁道上
[A<->B]按键 : 磁头在两个指定磁道之间反复移动
[RND]按键 : 磁头在两个指定磁道之间的各磁道随机寻道
[Eras]按键 : ERASE(擦除),将硬盘驱动器的所有扇区写零
[View]按键 : 在屏幕上查看硬盘驱动器的扇区内容
[Wrt]按键 : 选择一个代码, 写入当前磁道的所有扇区
[Hd]按键 : 切换(选择)磁头
[T]按键 : 测量盘片旋转一周所用的时间(以毫秒ms为单位),以及盘片转速(以转数/每秒rev/s为单位)
将磁头定位到指定的磁道上 ---如果指定磁道与当前磁道相距不远, 那么用[STEP-](后退一个磁道), [SETP+](前进一个磁道)按键来移动磁头就很方便. 在移动到跟当前磁道相距很远的磁道时, 就应该按[X->A]键, 屏幕上会有一个提示请你输入要移到的磁道编号(A), 这个值输入完毕后按[Enter](回车)键.如果有数字输入不正确, 可以按退格(backspace)键删除这一位数字.
Positioning between two given cylinders (在两个指定的磁道间进行磁头定位)---要让磁头在两个给定的磁道(磁道A,磁道B)间进行反复移动, 应按下[A<->B]键. 屏幕上会显示一个提示请你输入磁道(柱面)A和磁道(柱面)B的磁道号,磁头会在这两个磁道间定位.输入数值完毕按[Enter]键, 硬盘驱动器就会在这两个被选定的磁道(柱面)间不停的来回移动磁头. 磁头定位过程可以靠按[Cancel]键中断,或按[Exit]键中断并退出测试模式. 要使磁头在两个指定磁道(柱面)之间进行随机寻道定位, 应该按[RND]键. 开始和结束磁道(柱面)号的输入与在两磁道间反复移动磁头的模式类似.
Write (写入) --按下[Wrt]键会进入写入代码选择菜单:
0000
FFFF
5555
AAAA
6DB6
9999
选择写入代码完毕后按[Enter]键.
写入操作会在硬盘驱动器当前磁道的所有扇区执行.
注意! 写代码到选定的磁道上会销毁用户的数据.
View the sector contents (查看扇区内容) --在按下[View]键后, 你必须输入起始的柱面号,磁头号和扇区号. 然后扇区的内容会显示在屏幕上, [Up]键和[Down]键可以让你查看(当前扇区)前面的或后面的扇区. 你可以按[Cancel]键退出扇区查看模式,或按[Exit]键退出并随后退回到主菜单.
Erase (擦除) --按[Eras]键会使引起
下列消息显示:
ARE YOU SURE? (你确认吗?)
press [Enter] or [Cancel] (按[Enter]键或[Cancer]键)
在按下[Enter]键后, 硬盘驱动器会重校准磁头(磁头回零磁道)并开始从零柱面零磁头写空值(null). 擦除过程可以被按[Cancel]键中断或按[Exit]键中断并随后退回到主菜单.
注意! 擦除会破坏用户数据!
Drive translator test (硬盘驱动器逻辑地址到物理地址转换测试) --在按下[Tran]键后你必须输入准备测试的区域的开始和终止柱面. 这种测试将以两遍的方式进行,第一遍在每一个扇区写入这个扇区对应的(用该扇区地址计算出的)数值,而第二遍读每一个扇区中写入的数值并将它与用该扇区地址计算出的数值相比较.如果数值不区配, 就会报告一个错误.
注意! 转换测试会破坏用户数据.
Measuring the rotation period and rotaion speed for magnetic disks (测量盘片的旋转周期和转速)- 当按下[T]键时, 屏幕会显示如下消息:
Index xx,xx ms (旋转周期 xx,xx毫秒 ms--millionsecond )
Rotations yyyy RPM (旋转速度 yyyy 转每分钟 RPM--Rotar per Miniute)
这里xx,xx是盘片旋转一周的时间,单位是毫秒, yyyy是转速,单位是转/每分钟. 这一测试模式可以按[Cancel]键中断或按[Exit]键中断并随后退回到主菜单. 有些IDE硬盘驱动器并不生成INDEX(旋转指示)信号. 对于这样的硬盘驱动器不可能测出旋转周期和旋转速度, 因此在按下[T]键后, 屏幕显示会是空白.
"LBA mode"(LBA扇区定址模式) 如果测试工具是在LBA扇区定址模式下, 那么状态行会显示当前扇区LBA扇区号,而不是柱面(CYL)号,磁头(HEAD)号. 如果屏幕上"键盘"区上显示有[Ver.]键, 说明可对当前扇区进行校验.
在LBA扇区定址模式下, 所有对磁头进行移动定位的测试模式都是在LBA扇区之间移动磁头而非在柱面间移动磁头.
2.5.4 Controller test 控制器测试
控制器测试(PCB电路板)--这项测试用于测试和维修
-ATA interface conntroller ATA接口控制器;
-MCU微控制器;
-Read/write channel; 读写通道
-buffer RAM; 缓存;
测试模式的菜单:
CONTROLLER TEST 控制器测试
Cyclic reading state register 反复读状态寄存器
Sector buffer test 扇区缓存测试
Cyclic writing to a sector 反复写入一个扇区
Cyclic reading of a sector 反复读取一个扇区
IRQ test 硬中断请求IRQ测试
Drive self-diagnoistics 硬盘驱动器自诊断
Drive reset 硬盘驱动器复位
Exit 退出
Cyclic reading state register 反复读状态寄存器 ---这项测试是为了检查主机与硬盘驱动器的微控制器之间的总线, 适用于如下情况: 硬盘驱动器对从主机送来的ATA命令不响应, 错误的解释执行命令, 或者硬盘驱动器总是处于忙状态--状态寄存器的BSY(忙)位总是活动的. 在测试时会对状态寄存器进行反复的读, 此时可以利用一台示波器来帮助查找总线故障. 反复读取可以按键来中断.
当测试开始时, PC-3000AT会显示如下消息:
The state register read cycle is performed (在进行状态寄存器读)
在测试执行时状态寄存器和错误寄存器的LEDS指示灯不会活动. 你可以按PC-3000AT键盘(在数字小键盘上)上的任意键中断测试, 或者按[Exit]键中断测试随后退回到主菜单.
IRQ test 硬中断请求测试 --这项测试用于检查通过硬盘驱动器IDE接口的40针连接器第31针发出的中断请求信号.
IRQ12 第12号硬件中断必须在电脑上没有被其它设备使用才可进行这个测试, 否则测试会导致错误.
Sector buffer test 扇区缓存测试--这项测试用于检查硬盘驱动器的内部数据总线, 总线上的总线驱动器部件, ATA接口控制器的内部总线, 以及扇区缓存区域 buffer RAM MC. 这项测试会执行标准ATA命令"写缓存"和"读缓存". 首先代码FF,FE,FD,FB,及F7,... 和代码00,01,02,04,08,10,... 被写入扇区缓存, 随后从扇区缓存中读出并与写入的数据比较.
当这项测试开始时, 屏幕上会显示如下消息:
Sector buffer is being performed. 正在进行扇区缓存测试
如果在测试期间没有检测到错误, 在测试结束时会显示如下消息:
Sector buffer test 扇区缓存测试
No errors 没有错误
Test complete 测试完成
如果在测试期间检测到一个错误, 测试结束时会显示如下形式的消息:
Sector buffer test 扇区缓存测试
ERROR 错误
Code written:0000000000000000 写入代码为 :000000000000000
Code read: 0000000011111111 读出代码为 :000000001111111
Test complete 测试完成
注意, 老型号的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盘驱动器与ATA标准有些不兼容. 在这种硬盘驱动器进行扇区缓存测试会报告错误.
Cyclic writing to a sector 反复写入一个扇区--这项测试用于检查硬盘驱动器的写通道和写预补偿电路. 测试期间一个短的0000H代码会反复写到在硬盘驱动器上的一个扇区上. 此时可以利用一台示波器来查找故障.
注意! 写入选定的扇区会破坏用户的数据.
测试开始时, PC-3000AT会在屏幕上显示如下消息:
Cyclic writing to a sector 反复写入一个扇区
相应的, 你应该输入数据要被写入的柱面号, 磁头号, 和扇区号. 这里所说的柱面号, 磁头号, 和扇区号要按照下面的公式:
Cylinder :0-(N-1) 柱面号 0 到 N-1 之间
Head :0- (M-1) 磁头号 0 到 M-1 之间
Sector :1-K 扇区号 1 到 K 之间
这里, N,M,和K分别代表被测硬盘驱动器的最大柱面号, 最大磁头号和最大扇区号. LBA mode" 在LBA模式下,你应该输入数据将要被写入的扇区的LBA扇区号.
输入完成后, 按[Enter]键, 测试会开始.
Cyclic writing to a sector 反复写入一个扇区
Cylinder: XXXX 柱面号
Head: X 磁头号
Sector: XX 扇区号
Running 正在运行
Cyclic reading of a sector 反复读取一个扇区--这项测试且用于检查硬盘驱动器的读通道, 数据分离电路和空闲时钟脉冲信号. 测试时会反复的的读取一个扇区. 此时可以利用示波器来查找故障. 当测试开始时PC-300AT会在屏幕上显示如下的消息:
Cyclic reading of a sector 反复读取一个扇区。
相应的, 你应该输入数据要被读取的柱面号, 磁头号, 和扇区号. 这时所说的柱面号, 磁头号, 和扇区号要按照下面的公式:
Cylinder :0-(N-1) 柱面号 0 到 N-1 之间
Head :0- (M-1) 磁头号 0 到 M-1 之间
Sector :1-K 扇区号 1 到 K 之间
这里, N,M,和K分别代表被测硬盘驱动器的最大柱面号, 最大磁头号和最大扇区号.
"LBA mode" 在LBA模式下,你应该输入数据将要被读取的扇区的LBA扇区号.
输入完成后, 按[Enter]键, 测试会开始.
Cyclic reading to a sector 反复读取一个扇区
Cylinder: XXXX 柱面号
Head: X 磁头号
Sector: XX 扇区号
Running 正在运行
HDD self-diagnostics 硬盘驱动器自诊断--当这项测试开始时, 会执行标准ATA命令90H "HDD self-diagnostics(硬盘驱动器自诊断)", 检查:
;-MPU; 微处理器
-CRC driver circuit; CRC校验码生成电路;
-Buffer RAM(full access); 缓存
-ATA interface controller ATA 接口控制器
当这项测试开始时, PC-3000AT会在屏幕上显示如下消息:
HDD self-diagnostics 硬盘驱动器自诊断
Completion code :01 结果代码:01
No errors deteted 没有检测到错误
如果在测试时检测到一个错误, 测试结束时会显示如下形式的消息:
HDD self-diagnostics 硬盘驱动器自诊断
Completion code :03 结果代码 03
Buffer RAM error: 缓存错误
硬盘驱动器自诊断结果代码
01 - 没有检测到错误;
02 - 微控制器错误;
03 - 缓存错误;
04 - CRC检验码生成电路错误;
05 - 主控制微处理器错误;
8X - 硬盘驱动器缺陷
Drive reset 硬盘驱动器复位 --用于复位"挂起"的硬盘驱动器, 在硬盘驱动器初始化期间会执行如下操作:
-硬盘驱动器硬件复位;
-初始化;
-磁头重校准;
在复位过程中, IDE接口RESET(复位)信号会发送, 持续时间为500毫秒, 然后初始化和磁头重校准命令会执行. 硬盘驱动器的复位过程会显示如下与复位, 初始化, 磁头重校准有关的消息:
HDD reset 硬盘驱动器复位
HDD initialization 硬盘驱动器初始化
HDD recalibration 硬盘驱动器磁头重校准(就是磁头定位零磁道 --译者注)
Reset complete 复位完成
pc3000英文说明书 译文草稿 v0.1
2.1 作用
PC-3000AT测试软件是PC-3000综合工具中用于IDE(ATA接口)硬盘驱动器修理和恢复的基本程序,被设计用于:
1.以较一般的方式诊断缺陷,修理IDE
硬盘驱动器.
2.使用ATA标准命令50H进行低级格式化来正确恢复硬盘驱动器.
3.在支持缺陷重设机制(defect reassign)的硬盘驱动器上(用缺陷重设机制)隐藏坏扇区.
4.以用户输入参数,软件输出信息的操控形式进行自动化驱动器测试(综合测试).
PC-3000AT 测试软件必须与 PC-3000AT 卡配合工作.注意! PC-3000AT 4.0 及更高版本既支持使用CHS扇区定址模式也支持使用LBA扇区定址模式进行驱动器测试.测试软件的CHS/LBA扇区定址模式切换是用键盘右部的数字小键盘上的一个预设按键来进行.(请看第三章 "测试软件工作时的输出信息). CHS扇区定址模式是PC-3000AT默认使用的测试运作模式.它和LBA扇区定址模式的差别在于有"LBA mode"字样标记在工作模式描述区和软件输出的信息中.
2.2 准备工作
1.将PC-3000AT卡用硬盘数据线电缆与要被测试的硬盘驱动器IDE口相连.
2.接上硬盘驱动器电源.
3.调入PC-3000综合工具的外壳程序 PC-SHELL,并从中启动PC-3000AT程序.
2.3 PC-3000AT 工作时的输出信息
为便于理解测试软件以"仪表面板"形式显示在电脑屏幕上的输出信息,这个"仪表面板"由以下几部分组成:
"显示器"- 显示关于测试过程的信息.在显示器的上部你可以看见"型号"这一行,它包含要被测试的硬盘驱动器的类型和参数信息:柱面数(CYL),磁头数(HEAD),扇区数(SEC). 在LBA扇区定址模式下,"型号"行将显示总共可用扇区数而不是柱面数(CYL),磁头数(HEAD),扇区数(SEC).在显示器的下部你可以看到"状态"这一行,它包含硬盘驱动器的状态信息:就绪/忙(READY/BUSY),在进行需时较长的测试的当前进度百分比 % (DONE) ,当前柱面(CYL),磁头(HEAD),扇区(SEC),在测试中检测到的驱动器出错的次数(ERRS).在LBA扇区定址模式下,只会显示当前扇区号而不是当前扇区的柱面(CYL),磁头(HEAD),扇区(SEC)参数.
两行"LED(发光二极管)指示灯" - 显示被测试的硬盘驱动器的状态寄存器和错误寄存器的信息,可用于监视硬盘驱动器在测试中的状态,及判断驱动器的故障原因.不活动的LED指示灯为蓝色,活动时为黄色或红色,红色表示发生了错误. 状态寄存器显示了IDE(ATA)硬盘驱动器的当前状态.状态寄存器的值在每一个命令执行后都会更新.错误寄存器会在命令执行后如果状态寄存器的错误位(ERROR)被设置时显示硬盘驱动器的(具体何种错误类型)状态.
"键盘" - 对应于电脑键盘右部的数字小键盘.这些按键的作用随测试软件当前所处的状态变化. 以下这些按键的作用是是固定的:
[Enter] - 输入参数,开始各种测试.
[Cancel] - 用于取消当前的测试或设置的参数.(可以与ESC互换使用).
[Exit] - 用于取消当前的测试或设置的参数,然后退回到模式选择("MODE SELECTION")菜单.
回应ckg12 pc3000英文说明书(2) 译文草稿 v0.1
6.4.5 格式化
格式化 - 开始低级格式化过程.格式化过程中硬盘驱动器会跳过在缺陷表中记录的缺陷扇区与缺陷磁道.格式化过程不能被中断,因为当它结束时会进行一次重新计算总共可用的正常扇区.磁道数并记录到磁盘上的工作.如果格式化因遇到错误而终止,说明有伺服区域出现了错误,或缺陷表不正确.即使格式化因遇到错误而终止(此时还没格化完整个盘面),仍然会重新计算总共可用的正常扇区.磁道数并记录到磁盘上,这样一来磁盘表面可能剩下一些区域未被格式化.在格式化之前你必须选择使用缺陷表(用于跳过表中记录的缺陷区域)进行格式化的工作模式或不使用缺陷表进行格式化的工作模式.格式化大约会花费40分钟,不过时间长短是由选择的格式化工作模式,磁盘的状态所决定,当磁盘表面有缺陷存在时,格式化所花时间会明显增长.
有时候,格式化可能会立即终止并返回04h(ABRT)错误码。这是因为(硬盘驱动器电路板PCB上的)微控制器INTEL 87C196的控制代码固件(烧录在INTEL 87C196 内部的ROM中或电路板上的ROM芯片上)与记录在盘片上的固件(代码或数据)版本不兼容.在这种情况下你将不得不重写盘片上的固件(代码或数据)使之适合于微控制器上的固件版本.
6.4.6 逻辑扫描
逻辑扫描- 使用LBA扇区定址模式下的逻辑参数进行缺陷检测过程.在测试开始前会显示如下的参数调整菜单:
起始LBA位置 : 0 扇区
结束LBA位置 : XXXXXX 扇区
次数 : 3
严格性 : 3
执行写测试 : NO
用校验方式取代读方式: YES
起始和结束 LBA - 决定测试的范围,起始扇区到终止扇区.
次数 - 决定对起始扇区到终止扇区这一范围内的扇区进行测试的遍数 ,可以从1遍到80遍.
严格性 - 决定测试对所遇到的错误的反应.这种测试是以LBA扇区定址表示法下逐块进行的,一在某一块中检测到一个错误,就会开始对这一块进行逐个扇区的测试.而这种(逐个扇区)分析测试重复的次数是由"严格性"因子决定的.为了提高测试的速度建议把这个值总是设为1.(由操作者输入的这个值将在后继各遍测试中使用).这个值的范围是1遍到10遍.
"执行写入测试"能在测试中关掉,而且"读取"可以用"校验"过程来替代.这样测试持续时间会大大缩短.(因为对扇区不做写入测试节省了时间,同时如果使用标准ATA校验读命令进行"校验"过程只会把扇区数据读入到硬盘的RAM缓冲中,由硬盘微控制器进行数据校验,如CRC,ECC,计算,无须读入到电脑内存中进行检查).
磁盘表面测试基于一种适应性算法-- 已经检测到的缺陷区域不会再在后面重复的各遍测试中再测试(这样可以节省时间).对于有大量缺陷的磁盘驱动器,这个过程大大减少了测试持续的时间.对 WDAC35100 (使用Pentium 120 , 测试遍数设为1遍, 关闭写入测试,使用校验代替读取) 的测试花费了30分钟.
在表面测试过程之后,电脑屏幕上会显示一张以LBA表示法记录的逻辑结构缺陷表.按[Enter]键会进入一个菜单,用于选择缺陷重设的模式: